***薄膜技術中心委託單下載***

中心量測收費標準(不更動)

儀器名稱

量測項目

收費標準

學術研究單位

營利事業單位

計畫合作單位

JEOL JSM-6700F

場發射掃描式電子顯微鏡(SEM)

試片大小限制:直徑φ25mm*高度10mm
倍率:25-650,000(視樣品與情況而增減
)

高分子材料不可量測

2500/小時

3000/小時

1500/小時

EDS

元素能量分析儀

試片大小限制:φ25mm*10mm
倍率:
3000~5000

高分子材料不可量測

2500/小時

3000/小時

1500/小時

SOPRA GES5

光譜式橢圓儀 (Ellipsometer)

量測範圍:190nm-1700nm

量測項目:折射率、消光係數、膜厚、多角度穿透/反射率

2500/小時

3000/小時

1500/小時

DI SPM-II

原子力顯微鏡(AFM)

試片大小限制:直徑φ10mm*高度3mm

量測範圍:0.5μm*0.5μm15μm*15μm

2500/小時

3000/小時

1500/小時

Twyman-Green

應力量測儀

量測範圍:1-10條干涉紋

量測項目:薄膜應力

2500/小時

3000/小時

1500/小時

XRD

X光繞射儀

試片大小限:2.5*2.5*0.5cm

量測角度-10°~168°

2000/小時

2500/小時

1000/小時

a-step

膜厚量測儀

掃描長度50μm~30mm

量測項目:薄膜厚度、表面圖形量測

2000/小時

2500/小時

1000/小時

HORIBA-T720

紅外光光譜儀

量測範圍:4000~400 cm-1

量測項目:穿透率

2000/小時

2500/小時

1000/小時

Hitachi U-4100

光譜儀

量測範圍:190nm-2500nm

量測項目:穿透率、5度角絕對反射率、吸收係數(absorption)

2000/小時

2500/小時

1000/小時

 4.中心鍍膜收費標準

種類

業界

學界

HR(edge)

20,000

15,000

AR

15,000

10,000

Metal

10,000

8000

有角度設計,分光鏡,GFF

看設計or是否有合作潛力,須含測試鍋價錢

 

新的價格

層數(金屬氧化膜,金屬膜)

收費標準

學術研究單位

營利事業單位

計畫合作單位

1-5

3000/

4000/

2000/

6-10

1500/

2000/

1000/

11-40

750/

1000/

500/

41-60

1500/

2000/

1000/

l   每層厚度以550nm1/4波長(光學厚度)為基準;

l   如需測試鍋及測試資料另計;

l   貴金屬(Au,Ag,Pt..)另計;

l   設計複雜(如需針對角度、雙波域、偏振光)須另計設計費;

l   交期:4周,急件(2周內)50%

l   基板最大尺寸:φ100 mm,單次以 5 片計,每超過 5 片加收清潔及準備費 2000 元;

l   委託鍍膜金額計算,舉例如下

n 學術單位鍍23層高反射鏡其價格為5*3000+5*1500+13*750=32250

n 營利事業單位要鍍23層高反射鏡其價格為5*4000+5*2000+13*1000=43000

 

*以上有任何的問題,歡迎與我們聯絡