主辦單位

中央大學薄膜技術中心

研討宗旨

國立中央大學薄膜技術中心場發射掃描式電子顯微鏡，已於今年3月加裝EDS完成，在開放對外服務之前,為使大家對本儀器有進一步的認識與了解，特舉辦本研討會，以期能為學術及產業之相關產品及研究作完整且細緻的電子顯微鏡量測服務。

儀器簡要

說明

本掃描式電子顯微鏡其廠牌為日本JEOL JSM-6700F冷陰極場發射掃描式電子顯微鏡，其解析度可達1.0nm(15KV)，2.2nm(1KV)，對材料之微觀結構可做精細之觀測，同時加裝了微區元素能量分析儀(EDS)，可提供對材料做進一步之元素定性與半定量分析的服務。

預計

報名人數

50人，即日起報名額滿為止。

會議日期

及地點

時間：2006年4月27日(四)。

地點：國立中央大學薄膜技術中心(科二館一樓大廳旁)。

報名方式

1.Email報名：tctseng@ios.ncu.edu.tw 或 h25279@ncu.edu.tw

2.傳真報名：03-4263918

3.郵寄報名：32001桃園縣中壢市五權里2鄰中大路300號

國立中央大學薄膜技術中心，曾增智先生收。

※為了便於準備資料，請於4/25(二)之前完成報名。

(未事先報名者，無法供應講義)

※聯絡人:曾增智(電話:03-4227151轉65292,65273)

費用

上課免費，但礙於經費午餐請自備或自行到學校餐廳用餐。

議程規劃

詳見會議表與師資介紹

相關網址

http://www.ncu.edu.tw/~tftc